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描述：天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達(dá)到斷代斷源的功效。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時間
2025-05-18訪問量
1651| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染 |
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儀器介紹：
天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
EDX8000L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測的科學(xué)檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L技術(shù)指標(biāo)：
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.01微米
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：30s—200s
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環(huán)境溫度: 15-26℃
相對濕度: ≤70%
標(biāo)準(zhǔn)配置：
超薄窗大面積的Fast SDD探測器
數(shù)字多道系統(tǒng)
可自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
三重安全保護(hù)模式
外觀尺寸：800×710×1360 mm
樣品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg
應(yīng)用領(lǐng)域：
古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚
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