金屬電鍍XRF鍍層測厚儀

參數規格 

型號：Thick 800A金屬電鍍XRF鍍層測厚儀元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg 

產品特點 

開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機 Si-PIN半導體探測器優點
能量線性好能量分辨率高，分辨率在160±5ev時間響應快，時間分辨好窗口材料薄靈敏區厚度可調結構簡單，體積小，重量輕對磁場不靈敏 

產品用途

金屬電鍍XRF鍍層測厚儀主要測試金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。