X光無損測厚儀

描述：X光無損測厚儀主要用于檢測金屬電鍍層厚度（如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……）；在企業品質檢測、來料管控方面，得到廣泛的應用。X光無損測厚儀是專業測試電鍍層厚度的，喬邦儀器銷售的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。

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經銷商
更新時間
2025-05-19
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產地類別	國產	應用領域	醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池,包裝/造紙/印刷

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

X光無損測厚儀原理

產生X射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能（其中的1%）會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。

X光無損測厚儀測量標準

1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

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