電鍍檢測(cè)儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。

電鍍層分析儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。

鍍層厚度檢測(cè)儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。

電鍍件鍍層厚度檢測(cè)儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。

電鍍鍍金厚度檢測(cè)儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。

金 銀 鎳 銅 多元素X射線(xiàn)光譜厚度測(cè)試儀 X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波。 X射線(xiàn)的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀。